本發(fā)明公開了一種無(wú)需測(cè)厚的晶粒尺寸超聲無(wú)損評(píng)價(jià)方法，所述方法通過(guò)對(duì)參考試塊進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，并用信號(hào)平均技術(shù)進(jìn)行前處理，構(gòu)造并計(jì)算衰減速率系數(shù)及平均衰減速率系數(shù)，建立不含厚度測(cè)量值的晶粒尺寸超聲評(píng)價(jià)模型，對(duì)晶粒尺寸未知的試塊進(jìn)行晶粒尺寸評(píng)價(jià)。該方法無(wú)需對(duì)厚度進(jìn)行測(cè)量，規(guī)避了被測(cè)對(duì)象厚度測(cè)量不便和測(cè)量不準(zhǔn)對(duì)后續(xù)平均晶粒尺寸的影響，且通過(guò)前處理的手段，有效提高了本發(fā)明方法的抗干擾能力，對(duì)金相法測(cè)得平均晶粒尺寸為87.7μm和103.5μm的兩個(gè)測(cè)試試塊，評(píng)價(jià)的結(jié)果分別為84.9μm和98.9μm，誤差控制在±5％內(nèi)。可見，本發(fā)明的方法提供了一種不受厚度影響并可有效評(píng)價(jià)金屬材料晶粒尺寸的手段。