本發(fā)明屬于構件無損檢測和信號處理領域,具體涉及一種基于時間反轉及多徑效應的一維構件應力波無損探傷方法。本發(fā)明包括:(1)在發(fā)射元處向鋼桿內發(fā)射高頻高斯一階導數脈沖信號;(2)確定信道的系統(tǒng)響應,接收元接收的回波是具有不同的幅值和時間延遲的信號的疊加;(3)選擇反轉時間T,在時域上在時間[0,T]內對首次接收回波進行時間反轉處理;(4)將時間反轉處理后的信號作為激勵再次由發(fā)射元發(fā)射入鋼桿。本發(fā)明相比于其他一維構件的無損探傷方法,應用時間反轉解決了由于一維構件封閉空間和單端傳感器限制條件下,由于復雜的多徑效應產生的信號混疊與失真,可以在損傷處形成顯著的聚焦場,使構件中的損傷可以被清晰檢測出來。
聲明:
“基于時間反轉及多徑效應的一維構件應力波無損探傷方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)