本發(fā)明適用于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,提供一種采用表面磁導(dǎo)技術(shù)的缺陷檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法,所述缺陷檢測(cè)裝置包括磁橋,所述磁橋兩端下方各設(shè)置一塊磁鐵,這兩塊磁鐵極性方向相反放置,其中一塊磁鐵的下方固定有磁敏元件。本發(fā)明可以區(qū)分上表面焊瘤和腐蝕坑,有利于排除焊瘤對(duì)檢測(cè)信號(hào)的干擾;另外結(jié)合漏磁檢測(cè)技術(shù),可以進(jìn)一步區(qū)分缺陷在上表面或下表面,可以確定缺陷的位置,更準(zhǔn)確的評(píng)估儲(chǔ)罐的剩余壽命;另外,在缺陷定量方面,可以確定缺陷的深度;此外,對(duì)于缺陷形貌的檢測(cè)更準(zhǔn)確,同時(shí)麻坑太多時(shí)的檢測(cè)問題也得到了解決,通過表面磁導(dǎo)技術(shù)所得數(shù)據(jù),可以檢測(cè)出上表面的蜂窩麻面。
聲明:
“采用表面磁導(dǎo)技術(shù)的缺陷檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)