本發(fā)明公開了一種基于激光散斑檢測(cè)植物根系生長(zhǎng)勢(shì)的苗木活力實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)方法,本發(fā)明基于激光散斑的亞納米量級(jí)的光學(xué)干涉測(cè)量方法來代替根生長(zhǎng)勢(shì)測(cè)量,本法方法具有無損、非接觸的優(yōu)點(diǎn),可用于連續(xù)監(jiān)控根系生長(zhǎng)過程;同時(shí)檢測(cè)時(shí)間短,對(duì)苗木的環(huán)境破壞小能確保能得到更準(zhǔn)確的信息,可以實(shí)時(shí)、持續(xù)地監(jiān)測(cè)根的變化。
聲明:
“基于激光散斑檢測(cè)植物根系生長(zhǎng)勢(shì)的苗木活力實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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