本發(fā)明屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。預(yù)置脫粘缺陷作為對(duì)比,采用電子閘門(mén)全波采集技術(shù),采集脫粘缺陷信號(hào)獲得超聲C掃描圖像。本發(fā)明涉及的薄壁金屬與非金屬粘接質(zhì)量超聲C掃描成像檢測(cè)方法,包括初始靈敏度校準(zhǔn)、檢測(cè)參數(shù)確定、待測(cè)樣品掃描及數(shù)據(jù)處理過(guò)程,采用電子閘門(mén)全波采集預(yù)置脫粘缺陷信號(hào),獲得超聲C掃描圖像,當(dāng)測(cè)量誤差平均值均小于10%時(shí),得到對(duì)應(yīng)的檢測(cè)參數(shù);通過(guò)樣品的超聲C掃描檢測(cè),獲得脫粘缺陷面積并利用公式計(jì)算其面積百分比。本發(fā)明涉及的薄壁金屬與非金屬超聲C掃描成像檢測(cè)方法,提高了檢測(cè)速度和可靠性,實(shí)現(xiàn)了脫粘缺陷尺寸的定量分析,適用于粘接制品粘接質(zhì)量無(wú)損檢測(cè)評(píng)價(jià),特別適用于薄壁金屬與非金屬粘接質(zhì)量無(wú)損檢測(cè)評(píng)價(jià)。
聲明:
“薄壁金屬與非金屬粘接質(zhì)量超聲C掃描成像檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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