本發(fā)明提供了一種基于二階模式波的薄板結(jié)構(gòu)超聲TOFD檢測(cè)盲區(qū)抑制方法,屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該方法采用由超聲探傷儀、TOFD探頭、有機(jī)玻璃傾斜楔塊和掃查裝置組成的TOFD檢測(cè)檢測(cè)系統(tǒng),沿待測(cè)薄板工件表面實(shí)施B掃查與信號(hào)采集,獲得不同掃查位置處的A掃描信號(hào)集合。利用費(fèi)馬定理、斯涅爾定律與波型轉(zhuǎn)換原理求解不同掃查位置處的二階模式波最短傳播聲時(shí)與界面出射點(diǎn)位置,進(jìn)而結(jié)合模擬退火算法確定晶片接收點(diǎn)與盲區(qū)內(nèi)缺陷端點(diǎn)深度。與現(xiàn)有的可替代TOFD技術(shù)相比,該方法能夠有效抑制薄板結(jié)構(gòu)檢測(cè)盲區(qū)并實(shí)現(xiàn)近表面缺陷深度定量,具有較高的工程應(yīng)用價(jià)值。
聲明:
“基于二階模式波的薄板結(jié)構(gòu)超聲TOFD檢測(cè)盲區(qū)抑制方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)