本實(shí)用新型涉及TVS的單體器件測(cè)試領(lǐng)域，揭示了一種TVS管的擊穿檢測(cè)電路，包括電源、開關(guān)電路、電流表、電壓表、脈沖檢測(cè)電路和TVS管，所述電源、開關(guān)電路、電流表、TVS管依次串聯(lián)形成回路，所述電壓表并聯(lián)在所述TVS管的兩端，所述脈沖檢測(cè)電路并聯(lián)在所述TVS管的兩端且與所述開關(guān)電路連接；電源開啟且開關(guān)電路閉合后，當(dāng)所述脈沖檢測(cè)電路檢測(cè)到所述回路中產(chǎn)生電流脈沖信號(hào)時(shí)控制所述開關(guān)電路斷開。本實(shí)用新型提供的電路，能夠解決用傳統(tǒng)的測(cè)試方法測(cè)試二次擊穿時(shí)造成被測(cè)樣品燒毀的難題，實(shí)現(xiàn)對(duì)TVS管二次擊穿的精確檢測(cè)，而不會(huì)造成被測(cè)樣品的燒毀，達(dá)到對(duì)被測(cè)樣品無損測(cè)試及可重復(fù)性測(cè)試的目的。