本申請(qǐng)適用于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種缺陷深度檢測(cè)方法、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),其中,上述方法包括:獲取原始熱成像圖像序列,并對(duì)原始熱成像圖像序列進(jìn)行線掃描,生成線掃描圖像;根據(jù)線掃描圖像提取裂紋深度特征;根據(jù)裂紋深度特征確定原始熱成像圖像序列中缺陷的深度。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的缺陷深度檢測(cè)方法、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),改變了現(xiàn)有技術(shù)采用靜態(tài)檢測(cè)對(duì)熱成像圖像進(jìn)行處理的方法,通過線掃描以及線掃描重建,得到熱成像圖像序列對(duì)應(yīng)的線掃描圖像,實(shí)現(xiàn)了高效率的動(dòng)態(tài)檢測(cè),能夠在掃描圖像中提取的裂紋深度特征中包含各個(gè)像素點(diǎn)的連續(xù)溫度變化信息。
聲明:
“缺陷深度檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)