本發(fā)明涉及一種深孔環(huán)形件內(nèi)壁磁粉檢測系統(tǒng)靈敏度校驗(yàn)方法,屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括取校驗(yàn)樣件,切除對(duì)應(yīng)深孔中部位置,形成貫穿深孔且軸向截面為規(guī)則幾何形狀的缺口;加工出截面與缺口相配且具有與深孔切除部分相配圓弧凹槽的鑲塊;將磁粉檢測靈敏度試片粘貼在鑲塊的圓弧凹槽中部,再將鑲塊嵌在深孔環(huán)形件的缺口處固定,使圓弧凹槽恰好彌補(bǔ)深孔切除部分;對(duì)固定好鑲塊的深孔環(huán)形件進(jìn)行噴淋磁化,再將鑲塊取下,通過試片的顯示,判斷深孔環(huán)形件的內(nèi)壁磁粉檢測系統(tǒng)靈敏度是否滿足要求。本發(fā)明以簡單合理的方法妥善解決了深孔環(huán)形件內(nèi)壁磁粉檢測系統(tǒng)靈敏度的校驗(yàn)問題,使磁粉檢測技術(shù)可以更加廣泛地應(yīng)用于該類工件的內(nèi)壁檢測。
聲明:
“深孔環(huán)形件內(nèi)壁磁粉檢測系統(tǒng)靈敏度校驗(yàn)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)