本發(fā)明涉及的一種多層
復(fù)合材料X射線數(shù)字成像檢測(cè)電壓的確定方法,屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該方法首先根據(jù)估算檢測(cè)電壓和每層材料的厚度試樣,得到每層材料厚度同X射線穿透率關(guān)系曲線的擬合公式;然后固定一層材料,獲得其余材料相對(duì)于固定材料的等效厚度,并據(jù)此得到多層復(fù)合材料產(chǎn)品相對(duì)于固定材料的等效厚度值,將該等效厚度值帶入根據(jù)固定材料的X射線穿透曲線獲得的擬合公式中,最終得到多層復(fù)合材料產(chǎn)品X射線數(shù)字成像檢測(cè)電壓值。本發(fā)明方法具有操作方便、適用性廣、可靠性高、準(zhǔn)確性高、成本低等優(yōu)點(diǎn),適用于復(fù)合材料X射線數(shù)字成像檢測(cè)領(lǐng)域,特別適用于多層復(fù)合材料X射線數(shù)字成像檢測(cè)電壓的選擇。
聲明:
“多層復(fù)合材料X射線數(shù)字成像檢測(cè)電壓的確定方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)