本發(fā)明涉及基于超聲相控陣的薄板三維機(jī)織層合板
復(fù)合材料試件內(nèi)部缺陷檢測(cè)方法,包括:1)對(duì)試件進(jìn)行100%掃查,得到三維機(jī)織層合板復(fù)合材料試件分別在同時(shí)激發(fā)4,8,16個(gè)晶片的條件下得到的超聲檢測(cè)結(jié)果圖;2)對(duì)薄板機(jī)織層合板復(fù)合材料進(jìn)行橫縱向方向超聲掃描得到檢測(cè)圖,得到相控陣設(shè)置最優(yōu)參數(shù);3)在參數(shù)設(shè)置最優(yōu)條件下得到超聲回波A掃波形圖、B掃圖像以及C掃圖像;4)針對(duì)C掃得到的缺陷掃查圖進(jìn)行定量分析,結(jié)果表明,該檢測(cè)方法可用于三維機(jī)織層合板復(fù)合材料的無損檢測(cè)及其內(nèi)部缺陷的初步評(píng)價(jià)。
聲明:
“基于超聲相控陣的薄板三維機(jī)織層合板復(fù)合材料試件內(nèi)部缺陷檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)