本發(fā)明公開了一種基于數(shù)字全息層析的光纖熔接點(diǎn)的三維結(jié)構(gòu)檢測(cè)方法。該發(fā)明基于數(shù)字全息層析技術(shù)，對(duì)采用數(shù)字全息技術(shù)測(cè)得的光纖熔接點(diǎn)全息圖，取不同再現(xiàn)距離進(jìn)行數(shù)字再現(xiàn)校正軸向誤差，獲得各角度下熔接光纖的相位圖，然后對(duì)各相位圖進(jìn)行旋轉(zhuǎn)偏差的橫向校正、縱向校正和圖像傾斜校正，得到各角度下光纖熔接點(diǎn)位置一致的相位圖，最后利用層析反投影濾波算法重建光纖熔接點(diǎn)的三維結(jié)構(gòu)。本發(fā)明因數(shù)據(jù)處理過程完全數(shù)字化，旋轉(zhuǎn)偏差得以校正，具有精度高、無損傷、三維定量檢測(cè)等優(yōu)點(diǎn)，可用于基于數(shù)字全息層析技術(shù)檢測(cè)光纖熔接的質(zhì)量等。