一種基于頻譜分析原理減小TOFD檢測近表面盲區(qū)的方法,屬于超聲無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。該方法采用一套包括TOFD超聲
檢測儀、集成TOFD操作軟件的計算機(jī)、TOFD探頭、掃查裝置、校準(zhǔn)試塊及數(shù)字示波器構(gòu)成的超聲測試系統(tǒng)。針對TOFD檢測中近表面區(qū)域進(jìn)行掃查,對采集到的包含有缺陷信息的混疊時域信號進(jìn)行頻譜分析,讀取幅度譜中諧振頻率,結(jié)合材料縱波聲速計算出直通波與缺陷上尖端衍射波聲程差,進(jìn)而確定近表面盲區(qū)內(nèi)缺陷埋深。與其他減小近表面盲區(qū)深度的方法相比,該方法對硬件系統(tǒng)無額外要求,不受限于被檢工件厚度,具有較好的工程應(yīng)用價值。
聲明:
“基于頻譜分析原理減小TOFD檢測近表面盲區(qū)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)