本實(shí)用新型涉及測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種納米顆粒粒徑的檢測(cè)裝置。本實(shí)用新型由激光器(1)、光纖耦合器(2)、干涉儀(3)、光電倍增管(4)、光譜分析儀(5)、計(jì)算機(jī)(6)、準(zhǔn)直聚焦透鏡組(7,8)、樣品池(9)和光纖組成,其中發(fā)光二極管(1)、光電倍增管(4)、干涉儀(3)和準(zhǔn)直聚焦透鏡組(7,8)通過(guò)單模光纖與光纖耦合器(2)橋接;光電倍增管(4)、光譜分析儀(5)、計(jì)算機(jī)(6)通過(guò)電纜依次連接。本實(shí)用新型所述裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單緊湊,小型實(shí)用,能有效進(jìn)行高濃度樣品測(cè)量,對(duì)樣品無(wú)干擾、無(wú)損傷,能快速、準(zhǔn)確測(cè)量納米顆粒粒徑,適合于現(xiàn)場(chǎng)或在線(xiàn)監(jiān)測(cè)的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“納米顆粒粒徑的檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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