本發(fā)明公開了一種強(qiáng)散射材料的光熱效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)及其測(cè)量方法,涉及材料無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,本發(fā)明包括計(jì)算機(jī)、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、激光器、用于放置待測(cè)材料的測(cè)試平臺(tái)、聚光組件、與計(jì)算機(jī)電連接的信號(hào)反饋組件、光路轉(zhuǎn)換器和空間光調(diào)制器SLM,光路轉(zhuǎn)換器與激光器設(shè)置于同一水平高度上,空間光調(diào)制器SLM與計(jì)算機(jī)電連接,測(cè)試平臺(tái)設(shè)置于光路轉(zhuǎn)換器的正下方,聚光組件用于聚集調(diào)制變化的激光照射到樣件后由于存在光熱效應(yīng),樣件出現(xiàn)溫度漲落與紅外輻射,將經(jīng)被測(cè)材料產(chǎn)生的輻射信號(hào)收集反射至信號(hào)反饋組件,本發(fā)明采用空間光調(diào)制器SLM進(jìn)行波前調(diào)控,補(bǔ)償散射相位,從而提高吸收效應(yīng),減小材料特性測(cè)量中的強(qiáng)散射,增強(qiáng)了材料表面的紅外輻射信號(hào)。
聲明:
“強(qiáng)散射材料的光熱效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)及其測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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