本實(shí)用新型公開了一種高低兩組各三方向投影的三維測(cè)量裝置,涉及電路板的檢測(cè)領(lǐng)域,包括由上至下依次設(shè)置的取像裝置、第一安裝塊、第二安裝塊;所述第一安裝塊的三個(gè)側(cè)面上分別安裝有三組第一光柵投影裝置,每組第一光柵投影裝置的投影光線與相機(jī)中軸線的夾角β1相等;所述第二安裝塊的三個(gè)側(cè)面上分別安裝有三組第二光柵投影裝置,每組第二光柵投影裝置的投影光線與相機(jī)中軸線的夾角β2相等;所述夾角β1的角度小于夾角β2;所述第一光柵投影裝置與第二光柵投影裝置交錯(cuò)設(shè)置。本裝置可以實(shí)現(xiàn)被測(cè)物高度最高到10mm的無損光學(xué)測(cè)量,有效減小了光線投射被測(cè)物產(chǎn)生的陰影對(duì)檢測(cè)精度的影響,具有通用性強(qiáng)、測(cè)量精度高的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“高低兩組各三方向投影的三維測(cè)量裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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