本申請?zhí)岢鲆环N巖體劣化發(fā)育特征的測定方法、裝置及存儲介質(zhì),包括獲取目標區(qū)域的劣化影響范圍內(nèi)的巖樣的第一參考劣化特征參數(shù),以及巖樣的不同劣化階段的第二參考劣化特征參數(shù);控制目標區(qū)域內(nèi)的發(fā)射器發(fā)射不同的發(fā)射頻率的震動波,基于震動波形成的傳播路徑,反演獲取巖體內(nèi)任一點的目標縱波波速和目標橫波波速,進而獲取巖體內(nèi)任一點的第一劣化特征參數(shù);基于巖體內(nèi)任一點的第一劣化特征參數(shù)與巖樣的第一參考劣化特征參數(shù)和第二參考劣化特征參數(shù),分別確定巖體內(nèi)任一點的劣化程度特征參數(shù)以及目標劣化階段,并生成巖體劣化發(fā)育分布圖。本申請中,實現(xiàn)對于巖體的無損檢測,簡化了巖體的劣化發(fā)育特征的測定過程,提升了測定精度以及測定效率。
聲明:
“巖體劣化發(fā)育特征的測定方法、裝置及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)