磁性
芯片磁參數(shù)批量化測(cè)試系統(tǒng),包括磁場(chǎng)發(fā)生裝置,位于磁場(chǎng)發(fā)生裝置磁場(chǎng)區(qū)域的測(cè)試平臺(tái),被測(cè)芯片放置在測(cè)試平臺(tái)上,磁場(chǎng)發(fā)生裝置連接電源和調(diào)壓器,磁場(chǎng)發(fā)生裝置通過(guò)控制電路模塊連接處理器裝置;被測(cè)芯片通過(guò)數(shù)據(jù)采集模塊連接處理器裝置。本實(shí)用新型一種磁性芯片磁參數(shù)批量化測(cè)試系統(tǒng),可對(duì)芯片的磁性能進(jìn)行批量的、快速的、無(wú)損的檢測(cè)。
聲明:
“磁性芯片磁參數(shù)批量化測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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