本發(fā)明提供一種基于微納熒光顆粒的薄膜熱導(dǎo)率測(cè)量方法,所述測(cè)量方法包括:提供微納熒光顆粒,加熱所述微納熒光顆粒,通過(guò)測(cè)量所述微納熒光顆粒PL譜(光致發(fā)光光譜)特征峰位移與溫度變化的關(guān)系,確定溫度系數(shù);將待測(cè)薄膜置于襯底上,并在所述待測(cè)薄膜表面放置吸收熱源和所述微納熒光顆粒,微納熒光顆粒作為溫度傳感器;利用激光照射所述待測(cè)薄膜,通過(guò)測(cè)量所述微納熒光顆粒的PL譜特征峰位移與激光功率變化的關(guān)系,確定關(guān)系斜率;最后結(jié)合所述吸收熱源的光功率吸收系數(shù)以及所述待測(cè)薄膜的形狀特征參數(shù),實(shí)現(xiàn)薄膜熱導(dǎo)率的測(cè)量。利用本發(fā)明的測(cè)量方法可以實(shí)現(xiàn)對(duì)微納米薄膜熱導(dǎo)率的無(wú)損、便捷、可靠測(cè)量。
聲明:
“基于微納熒光顆粒的薄膜熱導(dǎo)率測(cè)量方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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