本發(fā)明提供了一種鏡面三維變形的高精度測量方法,涉及材料測試及光學實驗技術(shù)領(lǐng)域。所述方法包括以下步驟:S1、布置測量系統(tǒng);S2、調(diào)節(jié)成像系統(tǒng)與標定;S3、獲取圖像序列;S4、計算。本發(fā)明對彩色相機采集到的每一張圖片進行通道分離,得到的每一組單通道圖片都是同一時刻同一角度且同一狀態(tài)下的,不必考慮同步觸發(fā)及環(huán)境等問題,因此該方法排除了所有可能影響測量結(jié)果的因素,極大地提高了測量精度,另外采用單相機即可對鏡面被測物實現(xiàn)非接觸無損三維測量。
聲明:
“鏡面三維變形的高精度測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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