本實用新型提供的一種集成電路測試裝置,包括集成電路測試座,集成電路測試座的頂部向內凹設有測試槽,測試槽內壁兩側相對設置有限位槽,限位槽內均滑動安裝有滑塊,兩個滑塊相互靠近的一端上均設置有卡塊,兩個滑塊相互背離的一端上均安裝有拉桿,拉桿延伸至集成電路測試座外并固定安裝有把手,拉桿上套設有彈簧,彈簧的一端連接所述滑塊,彈簧的另一端連接限位槽內壁。采用上述技術方案,進行測試時,當接觸件出現(xiàn)氧化或損壞的情況時,只需向外拉動拉桿,使卡塊不再抵持在測試板的上表面,便能將測試板快速取出,再將正常無損壞的測試板底部的接腳對準集成電路測試座的接觸件,向下按壓,便能將測試板快速固定在測試槽內,實現(xiàn)測試板的快速更換。
聲明:
“集成電路測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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