本發(fā)明公開了一種超導(dǎo)材料低溫微波表面電阻多模測試裝置以及方法,該裝置包括圓柱形金屬腔體以及填充于金屬腔體中的介質(zhì)材料,金屬腔體底面設(shè)有樣品孔,樣品孔的中心軸位于金屬腔體底面的中心。利用上述測試裝置測試微波表面電阻的多模測試方法,包括以下步驟:S1、將高純鈮置于樣品孔中,分別測量出TE
011工作模式和TE
021工作模式下的無載品質(zhì)因數(shù);S2、將待測樣品置于樣品孔中,分別測量出TE
011工作模式和TE
021工作模式下的無載品質(zhì)因數(shù);S3、根據(jù)相關(guān)公式即可計算待測樣品在TE
011工作模式和TE
021工作模式下的微波表面電阻值。該裝置及方法利用填充介質(zhì)圓柱諧振腔的多個模式,可對低溫下小尺寸樣品在較低頻率下的微波表面電阻進(jìn)行直接無損測量,測量不確定度低。
聲明:
“超導(dǎo)材料低溫微波表面電阻測試裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)