本發(fā)明涉及一種基于麥穗尺度分析的冬小麥赤霉病高光譜遙感監(jiān)測(cè)方法,與現(xiàn)有技術(shù)相比解決了赤霉病的遙感監(jiān)測(cè)未針對(duì)麥穗尺度分析的缺陷。本發(fā)明包括以下步驟:高光譜遙感數(shù)據(jù)的獲??;數(shù)據(jù)預(yù)處理;構(gòu)建小麥赤霉病指數(shù);多元逐步回歸模型的建立;遙感監(jiān)測(cè)結(jié)果的獲得。本發(fā)明利用敏感波段內(nèi)一階微分總和的歸一化比值構(gòu)建赤霉病指數(shù)后,建立其與病情嚴(yán)重度的一元線性回歸和多元逐步回歸模型,實(shí)現(xiàn)了小麥赤霉病的有效監(jiān)測(cè),為染病小麥赤霉病在冠層尺度以及田塊尺度上的無(wú)損診斷提供思路和依據(jù)。
聲明:
“基于麥穗尺度分析的冬小麥赤霉病高光譜遙感監(jiān)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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