一種橫向剪切干涉成像裝置,屬于激光干涉測(cè)量裝置,解決現(xiàn)有干涉測(cè)量裝置存在的問(wèn)題,目的在于具備實(shí)時(shí)性和簡(jiǎn)單條紋特性,使用時(shí)便于調(diào)配且不受強(qiáng)載頻影響。本發(fā)明包括在光路上依次位于同一條主光軸上的激光光源、擴(kuò)束準(zhǔn)直透鏡組和平行平晶;平行平晶入射波面法向與出射波面法向之間構(gòu)成的偏轉(zhuǎn)角在0°~180°之間可調(diào);擴(kuò)束準(zhǔn)直透鏡組口徑為40MM~100MM;平行平晶口徑為50MM~100MM、厚度為20MM~40MM。本發(fā)明元件少、安裝和調(diào)配過(guò)程簡(jiǎn)單快捷、具備實(shí)時(shí)性、抗震性強(qiáng),得到簡(jiǎn)單的雙曝光干涉條紋,適用于光學(xué)領(lǐng)域的畸變波面以及工程熱物理領(lǐng)域的密度、濃度和溫度等參數(shù)的實(shí)時(shí)的無(wú)損檢測(cè)。
聲明:
“橫向剪切干涉成像裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)