公開了一種CT設(shè)備,用于醫(yī)學(xué)成像、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域,也可以直接應(yīng)用于需要超高速成像的醫(yī)療應(yīng)用領(lǐng)域,亦可應(yīng)用在無(wú)損檢測(cè)等工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域。該CT設(shè)備包括:環(huán)形電子束發(fā)射陣列,包括環(huán)形均勻分布的多個(gè)電子束發(fā)射單元,各個(gè)電子束發(fā)射單元在控制信號(hào)的控制下依次發(fā)射大致平行于環(huán)形電子束發(fā)射陣列的軸線的電子束;環(huán)形反射靶,與環(huán)形電子束發(fā)射陣列同軸設(shè)置,其中電子束轟擊環(huán)形反射靶,產(chǎn)生與環(huán)形電子束發(fā)射陣列的軸線相交的X射線;以及環(huán)形探測(cè)器陣列,與環(huán)形反射靶同軸設(shè)置,包括多個(gè)探測(cè)器單元,X射線穿透被檢物體后入射到相應(yīng)的探測(cè)器單元。上述方案可以實(shí)現(xiàn)在保證一定的空間分辨率的前提下,大幅度提高CT掃描速度。
聲明:
“CT設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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