本發(fā)明涉及一種掃描磁探針顯微鏡,包括:低溫杜瓦設(shè)置在基準(zhǔn)平臺(tái)的凹槽內(nèi),用于儲(chǔ)存液氮以降低其內(nèi)部的樣品的溫度;樣品調(diào)平裝置設(shè)置在低溫杜瓦內(nèi),用于在樣本放入時(shí)調(diào)節(jié)樣品的高度以使該樣本與基準(zhǔn)平臺(tái)保持平行狀態(tài);二維掃描平臺(tái)設(shè)置在基準(zhǔn)平臺(tái)的上表面,用于調(diào)節(jié)磁探針裝置的位置以使磁探針裝置處于不同的檢測位置;勵(lì)磁磁體設(shè)置在樣本調(diào)平裝置的上方,且內(nèi)部用于放置樣本,用于為樣本提供外部磁場;磁探針裝置固定所述二維掃描平臺(tái)上,并且懸于樣品調(diào)平裝置的正上方;計(jì)算模塊與磁探針裝置相連接,用于根據(jù)磁探針裝置所檢測出的磁場空間分布信息計(jì)算樣品的電流密度。本發(fā)明可以無損連續(xù)檢測超導(dǎo)帶材的臨界電流密度。
聲明:
“掃描磁探針顯微鏡” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)