本發(fā)明涉及一種對(duì)片狀小型零件進(jìn)行探傷的磁化裝置及方法,屬于無損檢測(cè)領(lǐng)域。片狀零件的磁粉探傷方法一直存在很大困難,尤其是最大尺寸為10mm以下的片狀圓形小型零件。由于其尺寸小,且怕燒傷,無法采用直接通電法磁化。采用線圈法磁化時(shí),不僅效率低,還容易發(fā)生漏檢現(xiàn)象。在航空航天領(lǐng)域中,片狀小型零件的種類和數(shù)量較多,檢測(cè)效率存在較大問題。本發(fā)明為了使受檢的片狀小型零件能得到適當(dāng)?shù)拇呕?,使得缺陷所產(chǎn)生的漏磁場(chǎng)能夠吸附磁粉形成磁痕顯示,提出對(duì)片狀小型零件進(jìn)行探傷的磁化裝置及方法。
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“對(duì)片狀小型零件進(jìn)行探傷的磁化裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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