本發(fā)明公開了一種大焦深雙頻段太赫茲調(diào)頻連續(xù)波雷達成像方法及系統(tǒng);所述系統(tǒng)包括:太赫茲輻射源,透鏡,分束鏡,拋物面反射鏡,極化線柵,待測樣品,數(shù)據(jù)采集卡,上位機;通過大焦深雙頻段準光系統(tǒng)可獲取厚樣品在雙頻段不同極化下的回波信息,同時通過頻段融合?擴展傅里葉算法可大大提升距離向分辨率。與現(xiàn)有的太赫茲無損檢測技術(shù)相比,本發(fā)明所提出的準光設(shè)計和算法可大大提升成像系統(tǒng)的焦深及距離向分辨率,從而加大測試樣品厚度及位置靈活度,降低對大帶寬硬件需求及系統(tǒng)復(fù)雜度。
聲明:
“大焦深雙頻段太赫茲調(diào)頻連續(xù)波雷達成像方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)