本實(shí)用新型屬于無損檢測領(lǐng)域,具體涉及一種用于相控陣超聲儀器和探頭的系統(tǒng)性能校準(zhǔn)A型試塊,包括試塊主體以及設(shè)置在試塊主體上的兩組人工反射體和兩個(gè)探頭標(biāo)記;所述兩個(gè)探頭標(biāo)記刻蝕于試塊主體上表面,兩組人工反射體是分別以兩個(gè)探頭標(biāo)記為圓心,分別以50mm和25mm為半徑的圓弧上的通孔;同一組內(nèi)人工反射體之間的間隔≥2.5°,角度范圍0~85°;最靠近試塊主體上表面的人工反射體與試塊主體的側(cè)邊界距離≥25mm,兩個(gè)探頭標(biāo)記之間的距離≥探頭與試塊接觸面的長度;所述半徑為50mm圓弧上人工反射體的直徑為2mm,所述半徑為25mm圓弧上人工反射體的直徑為1mm??捎糜谏葤呓嵌确直媪?、扇掃角度范圍測量誤差、短缺陷分辨力的校準(zhǔn),方便快捷。
聲明:
“用于相控陣超聲儀器和探頭的系統(tǒng)性能校準(zhǔn)A型試塊” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)