本發(fā)明公開了一種分析聚變裝置第一鏡雜質(zhì)沉積層厚度及其結(jié)構(gòu)的方法,本發(fā)明是一種無損檢測第一鏡表面雜質(zhì)沉積層厚度及結(jié)構(gòu)的方法,可以直觀的顯示雜質(zhì)沉積層的成分信息,且樣品無需預(yù)處理,實用性強(qiáng)。太赫茲波在等離子體及真空環(huán)境下傳播損耗小,可以實現(xiàn)遠(yuǎn)距離原位在線診斷。本發(fā)明能夠在磁約束聚變裝置運行過程中原位分析第一鏡表面雜質(zhì)沉積、分布特點,有助于理解磁約束聚變裝置運行過程中雜質(zhì)灰塵沉積,氘氚燃料滯留等PSI問題。
聲明:
“分析聚變裝置第一鏡雜質(zhì)沉積層厚度及其結(jié)構(gòu)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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