本發(fā)明公開了一種用于裂紋類缺陷定量識(shí)別的極性加權(quán)矢量全聚焦成像方法,屬于無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該基于極性加權(quán)的矢量全聚焦成像的原理是在陣列換能器中構(gòu)造多個(gè)子陣列,通過計(jì)算每一子陣列在任意成像點(diǎn)處的單位方向矢量和其極性加權(quán)成像幅值矩陣,得到每一子陣列在任意成像點(diǎn)處的特征矢量;將計(jì)算所得的所有子陣列特征矢量進(jìn)行合成,得到合成特征矢量;對(duì)合成特征矢量的幅值進(jìn)行全局化處理,即令合成特征矢量的幅值等于全陣列所得的極性加權(quán)成像在任意聚焦點(diǎn)處的幅值,便可得到全陣列在任意成像點(diǎn)處的幅值矢量;最終根據(jù)缺陷的位置提取目標(biāo)缺陷的局部矢量圖,最后利用局部矢量圖中矢量的方向來確定目標(biāo)缺陷的方向。
聲明:
“用于裂紋類缺陷定量識(shí)別的極性加權(quán)矢量全聚焦成像方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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