本發(fā)明公開了一種水稻紋枯病識(shí)別方法、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì)，步驟包括：獲取水稻的原始高光譜數(shù)據(jù)并進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理，然后計(jì)算一階微分光譜特征和連續(xù)統(tǒng)去除特征，根據(jù)植被指數(shù)計(jì)算指數(shù)特征，將以上特征分別與紋枯病不同染病程度進(jìn)行相關(guān)性分析并結(jié)合閾值法選取出第一光譜特征集，根據(jù)獨(dú)立樣本T檢驗(yàn)方法篩選出以上在不同染病程度的作物樣本中呈現(xiàn)顯著差異的第二光譜特征集，從第一光譜特征集與第二光譜特征集中取交集得到最優(yōu)光譜特征集，將最優(yōu)光譜特征集輸入支持向量機(jī)模型得到識(shí)別結(jié)果，通過識(shí)別結(jié)果評(píng)估水稻品種紋枯病抗病程度，以快速、無損的方式完成紋枯病發(fā)病調(diào)查，并解決了人工田間調(diào)查數(shù)據(jù)冗余度高、主觀性高與監(jiān)測(cè)精度差的缺陷。