本實用新型屬于無損檢測領(lǐng)域,具體涉及一種用于相控陣超聲儀器和探頭的系統(tǒng)性能校準(zhǔn)B型試塊,包括試塊主體以及設(shè)置在試塊主體上的兩組人工反射體和兩個探頭標(biāo)記;所述兩個探頭標(biāo)記分別刻蝕于試塊主體上下表面且水平距離≥0,兩組人工反射體分別分布于試塊主體左右兩個區(qū)域;其中一組人工反射體沿垂直于試塊主體上表面的直線分布,以其中一個探頭標(biāo)記為圓心,水平距離均為50mm,角度范圍30~85°,且與試塊主體的側(cè)面邊界距離≥25mm;另一組人工反射體沿平行于試塊主體上表面的直線分布,以另一個探頭標(biāo)記為圓心,垂直距離均為25mm,角度范圍5~60°,且與試塊主體的側(cè)面邊界距離≥25mm;所述人工反射體的直徑為2mm。校準(zhǔn)方便快捷,無相互干擾。
聲明:
“用于相控陣超聲儀器和探頭的系統(tǒng)性能校準(zhǔn)B型試塊” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)