本發(fā)明公開了一種剔除曲面擴(kuò)散影響的金屬晶粒尺寸超聲衰減評(píng)價(jià)方法，所述方法通過對(duì)平面標(biāo)定金屬試塊進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，利用所采集的一次及二次底波信號(hào)提取試驗(yàn)總衰減譜，運(yùn)用多元高斯聲束理論建立曲面試塊擴(kuò)散衰減模型，進(jìn)而得到剔除擴(kuò)散衰減分量的散射衰減譜，運(yùn)用散射衰減譜計(jì)算晶粒尺寸評(píng)價(jià)函數(shù)，建立晶粒尺寸多頻加權(quán)評(píng)價(jià)模型，最后運(yùn)用所建立的晶粒尺寸多頻加權(quán)評(píng)價(jià)模型對(duì)晶粒尺寸未知的曲面測(cè)試試塊進(jìn)行晶粒尺寸評(píng)價(jià)。該方法能減小系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差，針對(duì)金相法測(cè)定晶粒尺寸為124.43?μm的6種不同曲率試塊，該方法評(píng)價(jià)相對(duì)誤差均值為4.28%?？梢?，本發(fā)明提供的方法有效抑制了曲面擴(kuò)散對(duì)晶粒尺寸評(píng)價(jià)的影響，提高了曲面金屬晶粒尺寸無損評(píng)價(jià)的精度。