一種標(biāo)記工業(yè)過(guò)程材料(7)的方法,包括將痕量的發(fā)光標(biāo)記物(1)有選擇地結(jié)合到工業(yè)過(guò)程材料(7)之上和/或之中,該痕量在存在環(huán)境光時(shí)不足以光學(xué)可測(cè)、但是在原地就地的或者現(xiàn)場(chǎng)的工業(yè)過(guò)程材料之上和/或之中是足以無(wú)損地光學(xué)可測(cè)的,其中痕量的發(fā)光標(biāo)記物(1)被用于為了材料控制、庫(kù)存控制、存貨控制、過(guò)程控制、物流控制、質(zhì)量控制以及污染控制中的至少一個(gè)而跟蹤、識(shí)別或者鑒定工業(yè)過(guò)程材料(7)。
聲明:
“使用發(fā)光標(biāo)記物的痕量結(jié)合高分辨度地跟蹤工業(yè)過(guò)程材料” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)