本發(fā)明屬于鈹?shù)V分析測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種原位微區(qū)定量分析鈹含量的方法,采集鈹?shù)V石樣品;鈹?shù)V石樣品制作成探針片或光薄片;識(shí)別鈹?shù)V物,并對(duì)探針片或光薄片樣品表面熱蒸鍍碳膜;鈹?shù)V物原位微區(qū)定量分析。通過配置針對(duì)超輕元素的大尺寸晶面間距的分光晶體,并配備脈沖高度分析器,可以實(shí)現(xiàn)鈹?shù)V物的原位微區(qū)定量分析,可對(duì)鈹?shù)V物進(jìn)行微米級(jí)別的無損分析,有助于獲取鈹?shù)V物在微區(qū)尺度的成分信息,運(yùn)用該測(cè)試方法技術(shù),沒有復(fù)雜的樣品制備過程,具有原位、微區(qū)、無損、實(shí)時(shí)、操作簡(jiǎn)便、靈敏度高等優(yōu)勢(shì)。
聲明:
“原位微區(qū)定量分析鈹含量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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