本發(fā)明公開了一種剔除水聲距影響的晶粒尺寸超聲評價方法,所述方法通過對標(biāo)定金屬試塊進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,初步分析確定剔除水聲距影響的晶粒尺寸的原始評價模型結(jié)構(gòu),再運用PCA方法計算出由原始評價模型中各變量降維組合的主元,通過各主元回歸估計模型的參數(shù)從而建立剔除水聲距影響的晶粒尺寸隱式評價模型,對未參與模型計算的測試試塊進(jìn)行晶粒尺寸評價。該方法能降低平均晶粒尺寸評價的系統(tǒng)誤差,針對金相法測定平均晶粒尺寸為105.57μm的測試金屬試塊,該模型評價結(jié)果為106.74μm,誤差僅為1.1%。可見,本發(fā)明提供的方法抑制了水聲距調(diào)整精度對晶粒尺寸評價的不利影響,提高金屬晶粒尺寸無損評價的可靠性。
聲明:
“剔除水聲距影響的晶粒尺寸超聲評價方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)