本發(fā)明公開了一種電子產(chǎn)品的可靠性失效
分析檢測方法,包括以下步驟:S1、在電子產(chǎn)品元件上安裝溫度、電流和電壓監(jiān)測裝置;S2、將電子產(chǎn)品元件額定范圍輸入分析檢測單元并作為第一數(shù)據(jù);S3、溫度、電流和電壓監(jiān)測裝置對電子產(chǎn)品元件實時數(shù)據(jù)檢測并上傳;S4、上述數(shù)據(jù)在分析檢測單元中與額定范圍值的最大值進行比較計算,超出額定值關閉電子產(chǎn)品元件;S5、將失效數(shù)據(jù)通過失效數(shù)據(jù)顯示單元進行顯示。本發(fā)明分析檢測方法簡單明了,通過數(shù)次檢測即可得出影響電子產(chǎn)品元件可靠性的主要原因,并針對性的進行改進,提高電子產(chǎn)品元件使用的可靠性,延長電子產(chǎn)品元件使用壽命,適合進行推廣。
聲明:
“電子產(chǎn)品的可靠性失效分析檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)