本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種由晶片污染引起的晶振跳頻失效的檢測(cè)方法、裝置、系統(tǒng)、電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，涉及晶片污染檢測(cè)的技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括：待檢測(cè)的晶振放置在恒溫箱中，晶振的表面貼附有熱電偶；在恒溫箱的溫度為第一溫度時(shí)，獲取由熱電偶采集的溫度和晶振的相應(yīng)頻率；在恒溫箱的溫度調(diào)整至第二溫度時(shí)，以預(yù)定頻率獲取由熱電偶采集的溫度和晶振的相應(yīng)頻率，直至熱電偶處于熱平衡狀態(tài)時(shí)停止獲??；根據(jù)由熱電偶采集的溫度和晶振的相應(yīng)頻率，以及晶振的標(biāo)稱頻率和預(yù)設(shè)的頻率偏移范圍，確定晶振是否存在跳頻失效。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的方法可以在無需剖片、無需在特定的溫度點(diǎn)長(zhǎng)時(shí)間保溫的情況下，即可高效檢測(cè)晶振的跳頻失效。