本實(shí)用新型公開(kāi)了一種晶振時(shí)鐘失效檢測(cè)電路，包括依次電性連接的外部晶振、時(shí)鐘整形模塊、晶振頻率偵測(cè)模塊和時(shí)鐘安全管理模塊；其中，外部晶振用于產(chǎn)生晶振時(shí)鐘；時(shí)鐘整形模塊用于將晶振時(shí)鐘由正弦波整形成方波；晶振頻率偵測(cè)模塊用于檢測(cè)晶振時(shí)鐘的頻率是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，若不在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，則產(chǎn)生異常信號(hào)；當(dāng)接收到異常信號(hào)時(shí)，時(shí)鐘安全管理模塊將芯片系統(tǒng)的工作時(shí)鐘由晶振時(shí)鐘切換為內(nèi)部RC時(shí)鐘。根據(jù)本實(shí)用新型的晶振時(shí)鐘失效檢測(cè)電路，能夠快速準(zhǔn)確地檢測(cè)到外部晶振是否停止振蕩，且能夠檢測(cè)晶振時(shí)鐘的頻率是否過(guò)快或者過(guò)慢，并在檢測(cè)到晶振時(shí)鐘異常時(shí)，及時(shí)將芯片系統(tǒng)的工作時(shí)鐘切換成內(nèi)部RC時(shí)鐘，避免芯片系統(tǒng)運(yùn)行紊亂。