本發(fā)明提供一種液晶顯示麻點失效的檢測方法,其包括以下步驟:步驟一:將外觀檢驗合格的樣品進行酸性鹽霧試驗;步驟二:將經(jīng)過酸性鹽霧試驗的外觀檢驗合格的樣品進行高溫高濕環(huán)境試驗;步驟三:將經(jīng)過高溫高濕環(huán)境試驗的外觀檢驗合格的樣品進行高溫高濕環(huán)境及密閉的加壓環(huán)境組合試驗。本發(fā)明提供本發(fā)明能夠快速篩選剔除早期失效品(制造缺陷),提高液晶重大隱蔽性質(zhì)量缺陷的篩選不良檢出率,降低產(chǎn)線封存返包及售后故障率。
聲明:
“液晶顯示麻點失效的檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)