本發(fā)明涉及一種敏感器件總劑量效應(yīng)失效率的測算方法,該測算方法包括提供多份待檢測的器件樣品;對各器件樣品分別進(jìn)行失效劑量檢測;將各器件樣品的失效劑量輸入尺度因子計算模塊進(jìn)行計算,并得到對數(shù)正態(tài)分布尺度因子數(shù)值;將對數(shù)正態(tài)分布尺度因子數(shù)值輸入形狀因子計算模塊進(jìn)行計算,并得到對數(shù)正態(tài)分布形狀因子數(shù)值;預(yù)測敏感器件累積的電離輻射總劑量;將對數(shù)正態(tài)分布尺度因子數(shù)值、對數(shù)正態(tài)分布形狀因子數(shù)值和敏感器件累積的電離輻射總劑量輸入失效率計算模塊進(jìn)行計算,并得到總劑量效應(yīng)失效率。采用本發(fā)明的測算方法,有助于進(jìn)行航天器電子系統(tǒng)的可靠性分析和優(yōu)化設(shè)計的指導(dǎo),進(jìn)一步降低航天工程的設(shè)計和實(shí)施成本。
聲明:
“敏感器件總劑量效應(yīng)失效率的測算方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)