本申請公開了一種存儲(chǔ)器芯片測試的失效比特圖制作方法、裝置及電子設(shè)備。該方法包括：將被測試存儲(chǔ)器芯片的每個(gè)存儲(chǔ)庫劃分為第一數(shù)目個(gè)單位區(qū)域；從所述芯片中任選一個(gè)未被測試的存儲(chǔ)庫，在第一存儲(chǔ)器中確定一存儲(chǔ)空間，將存儲(chǔ)空間劃分為第一數(shù)目個(gè)單元；依次對(duì)被選的存儲(chǔ)庫中的各單位區(qū)域進(jìn)行測試；根據(jù)在一個(gè)單位區(qū)域內(nèi)檢測到第一個(gè)失效比特，即在存儲(chǔ)空間中標(biāo)記出失效單元；根據(jù)被選的存儲(chǔ)庫中所有單位區(qū)域均被測試完成，轉(zhuǎn)向從所述芯片中任選一未被測試的存儲(chǔ)庫，直至所述芯片中的存儲(chǔ)庫均被測試完為止；利用各失效單元構(gòu)建第一失效比特圖。本申請的方法大大簡化了制作流程，縮短了失效比特圖的制作耗時(shí)，提高了工作效率，降低了生產(chǎn)成本。