本發(fā)明公開的一種光模塊在OTDR測試中發(fā)射端失效的自恢復(fù)方法,旨在提供一種在OTDR測試中光模塊發(fā)射端出于自我保護而導(dǎo)致關(guān)斷激光器后進行自恢復(fù)的應(yīng)用。本發(fā)明通過下述技術(shù)方案予以實現(xiàn):在光模塊中設(shè)置含有自恢復(fù)程序軟件的微控制單元MCU,對光模塊的工作狀態(tài)進行輪詢,當自恢復(fù)程序檢測到光模塊出現(xiàn)故障Fault狀態(tài)后,判斷Fault計數(shù)器是否小于3,是則自動進入中斷程序,MCUI/O口產(chǎn)生一個高電平觸發(fā)信號給驅(qū)動
芯片,同時將Fault計數(shù)器加1,恢復(fù)光模塊發(fā)射端驅(qū)動芯片正常工作;若大于3,則不進入中斷程序,繼續(xù)執(zhí)行主程序。本發(fā)明通過光模塊自身的自恢復(fù)功能來清除偶然的故障狀態(tài),既不影響光模塊的正常使用,更是減少了系統(tǒng)運營商和光模塊廠商的后期維護成本。
聲明:
“OTDR發(fā)射端光模塊測試失效的自恢復(fù)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)