本發(fā)明公開了一種監(jiān)測發(fā)光環(huán)境障礙涂層失效狀況的方法,首先對發(fā)光環(huán)境障礙涂層進行熒光成像,若在熒光成像圖像中存在黑色區(qū)域,則判斷發(fā)光環(huán)境障礙涂層存在開裂或剝落區(qū)域,已經(jīng)發(fā)生了結構宏觀失效,否則分別測量未受腐蝕的和待監(jiān)測的發(fā)光環(huán)境障礙涂層在特定激發(fā)波長下的熒光光譜,并分別計算兩種光譜中對應于激活離子電偶極躍遷的強度最大的特征峰和對應于激活離子磁偶極躍遷的強度最大的特征峰之間的強度比,并計算強度比的變化值,若其絕對值≥20%,則判斷發(fā)光環(huán)境障礙涂層發(fā)生了結構衰變。本方法靈敏度高,具有廣泛的適用對象和使用環(huán)境。
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