本發(fā)明公開(kāi)了一種智能變電站繼電保護(hù)裝置的檢修狀態(tài)的分析方法,光耦將獲取的檢修壓板的開(kāi)入量同時(shí)傳輸至CPU和FPGA,CPU在接收到開(kāi)入量后,結(jié)合當(dāng)前的GOOSE報(bào)文設(shè)置TEST位,然后生成新GOOSE報(bào)文并發(fā)送至FPGA,F(xiàn)PGA在接收到新GOOSE報(bào)文后,判斷新GOOSE報(bào)文中的TEST位的數(shù)據(jù)是否與自身接收到開(kāi)入量相符合,只有在二者相符合的情況下,才將新GOOSE報(bào)文發(fā)送出去。由此可見(jiàn),通過(guò)FPGA的再次判斷形成冗余的方式,可以提高確定檢修壓板的狀態(tài)的可靠性,減少失效或誤判的概率。另外,本方法無(wú)需更改GOOSE報(bào)文原有結(jié)構(gòu)及配置。
聲明:
“智能變電站繼電保護(hù)裝置的檢修狀態(tài)的分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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