本發(fā)明公開了一種讀失效存儲單元的替換方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì),接收外部的測試機(jī)發(fā)送的替換指令和校驗(yàn)數(shù)據(jù);將目標(biāo)存儲
芯片內(nèi)的數(shù)據(jù)與校驗(yàn)數(shù)據(jù)相比較,判斷失效的cell;對比較得到的失效的cell進(jìn)行分析和判別;執(zhí)行替換指令,依次對失效的cell進(jìn)行替換。將替換指令執(zhí)行的操作交由存儲芯片主控來完成,測試機(jī)在這個過程中只需要負(fù)責(zé)發(fā)送校驗(yàn)數(shù)據(jù)和替換指令,以及判斷執(zhí)行結(jié)果和固化替換信息,因此測試機(jī)在測試過程中的計算量大大減小,相應(yīng)減小了測試時間,對于需要同步測試多個存儲芯片的測試機(jī)來說,測試方的設(shè)備要求降低。
聲明:
“讀失效存儲單元的替換方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)