本發(fā)明涉及一種集成電路老化失效預(yù)警方法及電路,該方法包括:對載體電路和預(yù)警電路進行老化仿真,獲取載體電路失效時預(yù)警電路的檢測結(jié)果,取小于檢測結(jié)果的值作為失效閾值;將載體電路和預(yù)警電路置于同一老化環(huán)境中,按照預(yù)設(shè)的檢測頻率定期檢測,獲取預(yù)警電路的檢測結(jié)果;將檢測結(jié)果與失效閾值進行比較,若檢測結(jié)果大于或等于失效閾值,則判定載體電路即將老化失效,并產(chǎn)生預(yù)警信號;其中,檢測結(jié)果為預(yù)警電路中第一環(huán)形振蕩器與第二環(huán)形振蕩器的頻率差值,第一環(huán)形振蕩器與載體電路保持同步老化,第二環(huán)形振蕩器保持不被老化。本發(fā)明的方法,可以實現(xiàn)對載體電路老化失效情況進行有效預(yù)警。
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“集成電路老化失效預(yù)警方法及電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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