本實(shí)用新型公開(kāi)了一種MCU
芯片失效告警電路,所述MCU芯片的WID引腳連接至看門(mén)狗電路,所述MCU芯片失效告警電路包括信號(hào)檢測(cè)單元、失效判斷單元和告警單元;所述信號(hào)檢測(cè)單元的輸入端連接至MCU芯片的WID引腳的看門(mén)狗信號(hào)輸出;所述信號(hào)檢測(cè)單元的輸出端連接至所述失效判斷單元的輸入端;所述失效判斷單元的輸出端連接所述告警單元的輸入端。本實(shí)用新型的種MCU芯片失效告警電路通過(guò)信號(hào)檢測(cè)單元檢測(cè)MCU芯片發(fā)出的信號(hào),在MCU芯片異常時(shí)進(jìn)行告警提示。
聲明:
“MCU芯片失效告警電路” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)