本公開是關(guān)于系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)領(lǐng)域，具體公開一種結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的全局可靠性靈敏度分析方法及電子設(shè)備。該方法包括：構(gòu)建目標(biāo)結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的時(shí)變?cè)O(shè)計(jì)點(diǎn)，其中，所述設(shè)計(jì)點(diǎn)在樣本空間中對(duì)所述目標(biāo)結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效概率貢獻(xiàn)最大；基于所述時(shí)變?cè)O(shè)計(jì)點(diǎn)構(gòu)建重要抽樣密度函數(shù)，以通過所述重要抽樣密度函數(shù)抽取多組重要樣本數(shù)據(jù)；以所述多組重要樣本數(shù)據(jù)、所述多組重要樣本數(shù)據(jù)的加權(quán)指示函數(shù)作為建模樣本構(gòu)建態(tài)相關(guān)參數(shù)SDP模型；基于所述目標(biāo)結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的時(shí)變失效概率、所述SDP模型輸出的所述目標(biāo)結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的加權(quán)指示函數(shù)的條件期望值確定所述目標(biāo)結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的全局可靠性靈敏度指標(biāo)。